基于趋肤效应电阻的无损检测方法-知识产权与技术转移中心

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专利名称	基于趋肤效应电阻的无损检测方法
专利类型	发明专利
专利号	201110105101.1
申请日	2011-04-25
授权日	2012-12-19
应用领域	电子信息－电子元器件
专利简介	本发明提供一种基于测量趋肤效应作用下样品电阻变化的无损检测方法，采用一定频率、一定强度的交流电作用于待测材料，在趋肤效应作用下，在裂纹等缺陷集中的导体材料表面的电流密度会强制加大，凸显了表面缺陷对样品电阻的影响。实验结果表明完好材料(即无损样品)与疲劳后的材料(即有损样品)在高频时电阻变化比低频时明显得多。因而检测高频时的有损样品的电阻或对应电压，并与无损样品比较，可以高灵敏度的检测样品表面缺陷。该方法可以从整体全局上检测样品的疲劳程度，不需要逐点逐区检测，节约了时间和成本；由于趋肤效应，高频时对材料出现的表面缺陷更敏感，通过改变激发频率还可以获取有损样品表面缺陷深度信息。